产品名称:国产semight联讯SA8000半导体参数分析仪
产品型号:
更新时间:2026-09-30
产品简介:
国产semight联讯SA8000半导体参数分析仪可完成从基础的电流-电压(IV)、电容-电压(CV)表征,到快速精准的脉冲IV测试等全测量。其18槽模块化设计支持按需添加或升级测量模块,灵活应对不断变化的测试需求。作为集成化测试平台,SA8000致力于为全球半导体研发工程师提供精准、高效的测量方案。
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国产semight联讯SA8000半导体参数分析仪应用领域
CMOS 晶体管
Id-Vg, Id-Vd, Vth, Breakdown, Capacitance, Self-heating reduction, etc.
双极结型晶体管 (BJT)
Ic-Vc, Diode, Gummel plot, Breakdown, hFE, Capacitance, etc.
分立器件
Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc, Diode, etc.
存储器
Vth, Capacitance, Endurance test, etc.
功率器件
Pulsed Id-Vg, Pulsed Id-Vd, Breakdown, etc.
纳米器件
Resistance, Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc, etc.
可靠性测试
NBTI/PBTI, Charge pumping, Electromigration, Hot Carrier Injection, V-Ramp, J-Ramp, TDDB, etc.

国产semight联讯SA8000半导体参数分析仪是一款多功能、高集成度的参数分析仪,致力于实现高效、精准的电子器件表征。
SA8000参数分析仪可完成从基础的电流-电压(IV)、电容-电压(CV)表征,到快速精准的脉冲IV测试等全测量。其18槽模块化设计支持按需添加或升级测量模块,灵活应对不断变化的测试需求。作为集成化测试平台,SA8000致力于为全球半导体研发工程师提供精准、高效的测量方案。
特点
高测试平台
亚飞安级电流分辨率
微弱电流探测0.1 fA(10-16 A)的电流测量分辨率
全集成多维度测试能力
灵活组合直流IV、CV及快速脉冲测量单元
无需编程的Quick Test模式
快速测试器件的特性曲线或关键参数
功能与优势
全功能/高精度测试测量
HPSMU 源测量分辨率(100nV/1fA)
HRSMU 源测量精度 (100nV/0.1fA)
HV-SPGU 超快速脉冲和瞬态IV测量 (Rise/Fall time, 20ns)
WGFMU 复杂波形的生成(ALWG)及快速测量(Fast I/V, 500MSa/s)
MFCMU 多频率电容测量(10MHz)
SemiExpert专业软件
支持开关矩阵(Switch)
支持探针台(Prober)
开放的算法库 (Python)
实时图表绘制 (Chart)
可选模块
模块
模块名称
占用槽位
测试项目
主要指标
S2016C-SA
High Power Source Measure Unit
1
DC I-V
Pulsed I-V
电压最高 200 V / 电流 1 A (脉冲模式可达 3 A)
最小分辨率:1 fA / 100 nV
S2017C-SA
High Resolution Source Measure Unit
1
DC I-V
Pulsed I-V
电压最高 200 V / 电流 1 A
最小分辨率:1 fA / 100 nV
可选配前置单元支持 0.1 fA 及 IV/CV 切换
Z4001C-SA
Multi-Frequency Capacitance Measurement Unit
2
AC Impedance
C-V, C-f, C-t
频率范围:20 Hz 至 2 MHz
内置 ±40 V 直流偏置
S3023P-SA
Semiconductor Pulse Generator Unit
2
2-Level/3-Level Pulse
ALWG
高压输出高达 ±40 V
最小脉冲宽度:20 ns
S3033C-SA
Waveform Generator and Fast Measurement Unit
3
PG/Fast IV
ALWG
Transient Waveform Capture
波形生成编程分辨率:2 ns
250 MSa/s 同步高速测量
20 V 峰峰值输出