产品名称:TONGHUI同惠TH2853射频阻抗分析仪
产品型号:
更新时间:2026-09-29
产品简介:
TONGHUI同惠TH2853射频阻抗分析仪IV射频原理 测试频率:1MHz-5GHz
“精"——上海市先JIN企业!
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TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频阻抗测试仪是采用当前先进的射频IV法原理研制成功的新一代 阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的最新高度。
TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频阻抗测试仪也超越了国内外同类仪器3GHz的频率瓶颈;解决了国外同类仪 器只能分析、无法单独测试的缺陷;中英文操作界面也解决了国外 仪器仅有英文界面的尴尬;采用单测和分析两种界面,让测试更简单。
快达0.4ms的测试速度、及高达60kΩ的阻抗测试范围可以满 足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质 因数(Q)电感器的测量。自动电长度测量和测试端外置的端口配置 方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将射频IV阻抗测试能力突 破3GHz达到5GHz。
TONGHUI同惠TH2853射频阻抗分析仪应用领域
无源元件: 电容器、电感器、PCB电感、磁芯、电阻器、无线充电线圈、NFC/RFID感应线圈、音圈、ZHU听器、电机线圈、晶振、压电器件、变压器、芯片 组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件: LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件: 印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
介质材料: 塑料、陶瓷、印刷电路板和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料: 铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料: 半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
TONGHUI同惠TH2853射频阻抗分析仪IV射频原理
TH2853 - 500 射频阻抗测试仪 测试频率:1MHz-5GHz
TH2853 - 350 射频阻抗测试仪 测试频率:1MHz-3.5GHz
TH2853 - 200 射频阻抗测试仪 测试频率:1MHz-2GHz
TH2853 - 100 射频阻抗测试仪 测试频率:1MHz-1GHz
TH2853 - 050 射频LCR测试仪 测试频率:1MHz-500MHz
TH2852 - 500 射频阻抗分析仪 测试频率:1MHz-5GHz
TH2852 - 350 射频阻抗分析仪 测试频率:1MHz-3.5GHz
TH2852 - 200 射频阻抗分析仪 测试频率:1MHz-2GHz
TH2852 - 100 射频阻抗分析仪 测试频率:1MHz-1GHz
TH2852 - 050 射频阻抗分析仪测试频率:1MHz-500MHz
基本精度:±0.3%(典型值)
高精度:采用射频IV法,在GHz能仍保持很高的测试精度 • 高稳定性和一致性
高速度:最快达0.4ms/点的测试速度
高分辨:10.1英寸电容式触摸屏,分辨率1280*800
点测、列表、扫描、等效电路分析,自动化分选
1601点多参数列表扫描功能
四参数测量
4通道图形扫描功能,每通道可显示4条曲线,通道和曲线有14 种分屏显示方式
图形扫描模式每条曲线单独分选,频率分段扫描并分选
高兼容性:支持SCPI指令集
集成史密斯圆图,不需要网络分析仪即可调试射频阻抗匹配
测试头外置+自动电气长
TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频阻抗测试仪包括以下几种类型:
简要参数
TH2852 - 050
TH2853 - 050
TH2852 - 100
TH2853 - 100
TH2852 - 200
TH2853 - 200
TH2852 - 350
TH2853 - 350
TH2852 - 500
TH2853 - 500
测试频率
1MHz - 500MHz
1MHz - 1GHz
1MHz - 2GHz
1MHz - 3.5GHz
1MHz - 5GHz
基本精度±0.3%(典型值)
AC信号源电压-41dBm — +1dBm
DC偏置源
电压0V—±40V
TH2852系列射频阻抗分析仪 / TH2853系列射频阻抗测试仪区别:
功能参数
TH2852系列
TH2853系列
频率最小分辨率
1mHz
1kHz
测试功能
点测、列表、曲线扫描、史密斯圆图
点测、列表、曲线扫描
曲线扫描光标功能
√
选配
曲线扫描
统计分析功能
√
X
曲线扫描
数据保存功能
√
X
曲线扫描
等效电路分析
√
选配
曲线扫描 史密斯圆图
√
X
磁导率测试 介电常数测试
选配
X
A.高精度
宽带射频IV法电桥技术的应用,得以在1MHz-5GHz频率、100mΩ-60kΩ的阻抗范围内都能达到理想的10%测量精度,其中最高测试精度达±0.3%,远远高于网络分析仪的测试精度。
B.高稳定性和高一致性
测试条件:速度5,输出功率-10dBm(141mV),TH2852-1测试头被测件50Ω标准件。
设置频率
短期稳定度
1MHz±0.003%
10MHz±0.003%
100MHz±0.002%
500MHz±0.002%
1GHz±0.003%
2GHz±0.005%
3GHz±0.013%
4GHz±0.008%
5GHz±0.031%
C.高速度
D.10.1吋大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
10.1吋触摸屏、1280*800分辨率,Windows10系统、中英 文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN、VGA/HDMI接口,带来的 是无以伦比的操作便捷性。 大屏幕带来更多的好处是,可以把所有测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝 不拥挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意 可调。屏幕左边的按钮可以快捷选择8套测试参数。
E.增强的列表扫描功能
可以最多设置1601点的列表扫描,每个点可以单独设置测试 频率、测试电压、直流偏置等测试条件。
F.分析图形界面
最多可以4通道同时显示,每个通道 可以最多显示4条曲线。通道和曲线各有 十四种分屏显示方法。
通道
显示窗口
单个窗口可以设置不同扫描条件
每个窗口可以设置4条曲线
曲线
测量参数
单通道四曲线显示 单通道单曲线
双通道双曲线显示 四通道四曲线
G.分段扫描功能
单通道四曲线显示 双通道双曲线显示 单通道单曲线 四通道四曲线 分段扫描是在一个扫描周期内,设置不同的频率分段进行扫描,扫描时可设置不同的电平及偏置,扫描结果直接图形显示, 用于需要快速筛选多个频率段参数的扫描需求。 如晶体谐振器需要测试标称谐振/抗谐振频率以及其他杂散频率,通过分段扫描功能可在特定频率范围内扫描测量,无需扫描 不相关频率。
H.光标分析能力
TH2852 系列精密阻抗分析仪具有光标分析能力,可以通过光标实现如下功能: 1. 读取测量结果的数值(作为绝对数值或者相对于参考点的相对值) 2. 3. 4. 查找曲线上的特定点(光标查找) 分析曲线测量结果,计算统计数据 使用光标值修改扫描范围以及纵坐标缩放 TH2852 系列可以在每条曲线上显示 10 个光标,包括了参考光标。 每个光标有一个激励值(坐标系 X 轴对应的数值)和响应值(坐标系 Y 轴对应的数值)。 光标查找功能允许搜索下列条件测量点: 最大值、最小值 峰谷值: 峰值(极大值)、谷值(极小值)、光标左侧最近的峰谷值、光标右侧最近的峰谷值、多重峰谷值 目标值: 距离光标最近的目标值、光标左侧最近的目标值、光标右侧最近的目标值、多重目标值
I.图形分析功能
1) 曲线分选功能 可以对扫描曲线全部或者部分区域的测试值进行合格/不合格判断,常用于谐振曲线筛选如压电元件等谐振频率。
2) 等效电路分析
现实生活中不同类型的器件可以被等效成简单的三参数四种模型、四 参数三种模型的阻抗器件,等效电路分析测试功能提供了7种基本的电路 模型用于等效这些器件。 可以通过仿真的等效电路参数值的阻抗拟合曲线与实际测量的阻抗曲 线进行对比,还可以通过您输入的参数按照所选择的模型进行拟合。 等效的电路模型可以直接输出成TXT文档方便用户保存使用。
3) 曲线轨迹对比
曲线轨迹对比用于对被测件进行连续测量,所有曲线显示在同一个坐标系中。由下列两种应用:
a) 针对多种不同被测件 对比不同测量条件下的曲线轨迹 设置不同的频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值
b) 针对同一个被测件 对比同一个条件下测量的多次测量结果重复性 设置不同频率点,计算出所有曲线在该频率点的测量值
J.介电常数分析(选件)
TH2852系列精密阻抗分析仪支持介质材料介电常数、介质损耗分析,需选购测试夹具及分析软件。
TH2852 阻抗分析仪主机
TH26089 介质材料测试夹具
TH2852 介电常数测试软件
TH2852系列 校准套件
2.TH26089介质材料测试夹具
TH26089电介质材料测试夹具是设计在TH2852系列上进行准确的介电常数及介质损耗测量的夹具。通过使用平行板方法 测量固态材料的介电常数,从而消除离散电容。
1)TH26089外形结构
2)基本参数
测试频率DC-1GHz
测量参数电容(C)、耗损因数(D)、介电常数(εr', εr'')
测试电极
被测材料直径
被测材料厚度≥13mm
0.3mm-3mm
测试原理
平行板测量法
校准
开路、短路、负载
3.介电常数分析软件
该软件为选件,开通后在TH2852系列界面直接选择对应的参数即可,分别可以单测、列表扫描、曲线扫描,下图为曲线扫描界面。
F. 磁导率分析
TH2852系列支持磁性材料磁导率测试,在主机的基础上,需选配测试夹具及磁导率分析软件,具体配置如下:
TH2852系列 阻抗分析仪主机
TH26088 磁导率测试夹具
TH2852系列 磁导率测试软件
TH2852系列 校准套件
2.测试夹具
1)TH26088外型结构
2)TH26088磁导率测试夹具
TH26088可精确测量环形磁性材料的磁导率。由于该夹具的结构是环形线圈绕一圈(无漏磁),因此不需要绕环形线圈的导线,而且允许广泛的频率覆盖。 它配有一个小型和一个大型夹具,适应各种尺寸,是测量磁性材料的理想结构。
3)技术参数
测试频率DC - 1GHz
样本尺寸
高度h
内径范围b(直径)
外径范围c(直径)
小型部件用
≤ 3 mm
≥ 3.1 mm
≤ 8 mm
大型部件用
≤ 8.5 mm
≥ 5 mm
≤ 20 mm
4.磁导率分析软件选择开通磁导率分析软件之后,仪器便可以在单测、列表扫描、曲线扫描中直接选择磁导率参数,直接在界面显示测试结果。
TH2852-050 TH2853-050
TH2852-100 TH2853-100
TH2852-200 TH2853-200
TH2852-350 TH2853-350
TH2852-500 TH2853-500
显示
10.1英寸TFT LCD显示器1280×RGB×800,电容式触摸屏
AC测量参数|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、 Z(阻抗圆)、Y(导纳圆)、史密斯圆图、介电/磁性材料测量(选件)
DC测量参数VDC、IDC、RDC
测试频率
范围
1MHz - 500MHz
1MHz - 1GHz
1MHz - 2GHz
1MHz - 3.5GHz
1MHz - 5GHz
最高分辨率1mHz(TH2852系列),1kHz(TH2853系列)
测试电平AC电压-41dBm - +1dBm
AC电流80μA - 10.04mArms
DC偏置电压0V - ±40V
电流0mA - ±100mA
典型测量时间(速度)
五档:0(快速) - 5(精确) (不包括通讯时间的算数平均值)0:0.4ms 1:4ms 2:26ms 3:65ms 4:130ms 5:650ms
最高准确度±0.3%(典型值)
测量显示范围
a 1×10-18; E 1×1018
Cs、Cp±9.99999aF–9.99999EF
Ls、Lp±1.00000aH - 99.9999EH
D±0.00001 - 9.99999
Q±0.01 - 99999.9
R、Rs、Rp、X、Z±1.00000aΩ - 999.999EΩ
G、B、Y±1.00000aS - 99.9999ES
Vdc±1.000000aV - 999.9999EV
Idc±1.00000aA - 999.999EA
θr±1.00000arad - 3.14159 rad
θd±0.0001deg - 180.000 deg
Δ%±0.0001% - 999.999%
分选LCR模式10档分选;
扫描模式每条曲线单独分选
接口RS232C,USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、HANDLER、VGA、HDMI
开机预热时间30分钟
输入电压100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz
功耗最大150VA
尺寸(WxHxD)mm428x220x280
重量14kg