基础信息Product information

产品名称：绝缘电阻劣化CAF电化学离子迁移测试

产品型号：

更新时间：2026-09-24

产品简介：

符合国际行业标准要求JPCA-ET04、IPC-TM-650，IEC61189-5，IEC1086，ISO-9455-17等绝缘电阻测量PCB耐CAF能力评估，失效分析加速老化测试，绝缘电阻劣化CAF电化学离子迁移测试。PCB耐CAF能力离子迁移评估

产品特性Product characteristics

“精"——上海市先JIN企业!

“专"——专注工业测试十六年!

“特"——德国莱茵TUV认证供应商!

“新"——注册资本实缴壹仟万元!实缴资金行业中居前茅!抗金融风险能力强!

符合国际行业标准要求JPCA-ET04、IPC-TM-650，IEC61189-5，IEC1086，ISO-9455-17等绝缘电阻测量PCB耐CAF能力离子迁移评估，失效分析加速老化测试，绝缘电阻劣化CAF电化学离子迁移测试。

JR-AMI多路绝缘电阻测试系统主要应用领域

助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料

BGA、 CSP 等精细节距 IC 封装件

有机半导体相关（有机 EL)

电容、连接器等其他电子元器件及材料

各种绝缘材料的吸湿性特性评估

多路绝缘电阻测试系统

高灵敏 · 抗干扰 · 多通道

 绝缘性测量

 PCBA辅料兼容性评估

 PCB 耐CAF能力评估

 失效分析加速老化测试

表面绝缘电阻（SIR）概述

测试对象

助焊剂

清洗剂

锡膏

胶黏剂

印刷电路板

其他绝缘和半导体材料…

影响因素

温度

湿度

测量电压

作用时间

绕组中的残余电荷

绝缘表面状况表面绝缘电阻（SIR）概述

材料的潮湿和污染情况

材料特性检测和验证

失效分析

品质一致性检查

产品寿命的预

测分析等电化学迁移现象

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动，可高精度连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。绝缘电阻劣化CAF电化学离子迁移测试适用标准： JPCA-ET04、 IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、 IPC-TM-650_2.6.3.4A 、 IPC-TM-650_2.6.3.6。

1 表面绝缘电阻（SIR）及电迁移概述表面绝缘电阻（SIR）概述

表面绝缘电阻

Surface Insulation Resistance

表面绝缘阻抗可以定义为绝缘材料两个电路导体之间的电阻

是电气设备和电气线路最基本的绝缘指标

电化学迁移

Electro Chemical Migration

电化学迁移可以定义为在电路板上的导电金属纤维在偏置直流电压下生长。

这个现象可能在电路板内部，外部，或者多层板材料间发生。

由于阳极离子会溶于溶液中，通过电场的作用，从而在阴极上沉积最终造成金属纤维的生长。

表面绝缘电阻（SIR）概述

印刷电路板表面受外在离子污染或因腐蚀后铜焊盘表面所产生的离子, 将从印刷电路板表面的阳极透过印刷电路板的内层向阴极沉积造成漏（导）电现象。

电化学迁移通常造成两种现象。当污染存在时，在一定的电压的作用下，在阳极和阴极之间形成表面的晶枝生长。当接触面为锡铅焊锡时，铅晶枝会形成树状结构内部，而锡晶枝多为雪花结构。如果偏置电压足够高，在阳极和阴极之间的晶枝会凸出，造成本地的破碎结构。第二种常见的电化学现象就是发生导电阳极丝现象（CAF） 。

表面绝缘电阻（SIR）在电子制造领域应用：

在电子制造领域， SIR被认为是评估用户线路板组装材料的有效评估手段。

表面绝缘阻抗SIR测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题。这些失效通常是由于材料的交互性，工艺控制上的疏忽，或者材料本身特性不能达到用户所需要的性能。通过加速温湿度的变化， SIR能够测量测试在特定时间内电流的变化。

在电子制造领域电路板的清洁度也被普遍认为是影响长期可靠性和性能的重要因素。所以监控其清洁度/污染程度的SIR

也是不可少的手段。表面绝缘阻抗（SIR）测试数据可以直接反映其清洁度。这也是为什么电路板制造商，助焊剂，涂覆材料和电子产品组装厂商也往往将SIR将作为一个重要的工艺和产品控制工具。

2 表面绝缘电阻（SIR）测试系统系统特点：

依据IPC标准进行设计开发、制造

高电阻范围，可达5E+04~1E+1 Ω

宽电压范围，电压范围可达0~500V

多通道设计，支持扩展128通道

偏置、 测试电压， 测试时间独立任意设置多模块独立分组测试，可同时进行不同要求的试验测试结果可通过曲线、表格的形式进行显示和交互基于SQL Server数据库进行存储和管理，便于回溯

表面绝缘电阻（SIR）测试系统

项目 参数

通道数 64通道（可扩展128通道）

测试组数 4组（16通道/组）

工作时间 1~9999H

测试电压 0~100V（0.001V步进）

100~500V（0.01V步进）

偏置电压 0~500V

电阻范围 5E+04~1E+1 Ω

电流测量范围 20pA~2mA

电阻测试速度 4~6秒/通道（典型）

64通道≤ 5分钟

测试间隔时间 任意

测试电压稳定时间 1-600秒

测试仪器 J R 2985

外形尺寸 550*300*150（长*宽*深）

设备净重 12Kg

输入电压 AC 220V

性能特点 Performance characteristics

多路绝缘电阻（CAF）测试系统

500V~3000V多种测试电压模块选择及组合使用

测试通道可以128CH为基数模组无限扩展

高速测试能力，所有通道总测试时间≤3分钟(512CH)

16CH为最小单位任意设置独立测试组

通道数量可达：128/256/384/512

参数保存间隔：≥1min 可设

宽范围的阻值测试范围：106Ω ~ 1014Ω

具有测试中暂停、测试中断恢复功能

技术参数 Technical parameter

电压 500V 1000V 1500V 2000V 2500V 3000V

通道数 128/256/384/512 128/256/384/512 128/256/384/512

测试组数 8～32组(16通道/组) 8～32组(16通道/组) 8～32组(16通道/组)

测试电压精度 5～20VDC(±3%)

21～500VDC(±1%)

5～20VDC(±3%)

21～1000VDC(±1%)

5～20VDC(±3%)

21～1000VDC(±1%)内部

1000VDC～3000VDC(±3%)外部

步进电压 1V 1V 1V

电阻测量范围 1×106～1×1013Ω 1×106～1×1014Ω 1×106～1×1014Ω

电阻测量精度

1×106～1×1010Ω≤±5%

(测试电压5V)

1×106～1×1010Ω≤±5%

(测试电压5V)

1×106～1×1010Ω≤±5%

(测试电压5V)

1×1010～1×1011Ω≤±10%

(测试电压5V)

1×1010～1×1011Ω≤±10%

(测试电压5V)

1×1010～1×1011Ω≤±10%

(测试电压5V)

1×1011～1×1012Ω≤±15%

(测试电压50V)

1×1011～1×1012Ω≤±15%

(测试电压50V)

1×1011～1×1012Ω≤±15%

(测试电压50V)

1×1012～1×1013Ω≤±30%

(测试电压100V)

1×1012～1×1013Ω≤±30%

(测试电压100V)

1×1012～1×1013Ω≤±30%

(测试电压100V)

电阻测试速度 10秒/通道

512通道≤3分钟

10秒/通道

512通道≤3分钟

10秒/通道

512通道≤3分钟

测试方式 连续 连续 连续

自动保存时间 1分钟(可设) 1分钟(可设) 1分钟(可设)

保护电阻 1MΩ/5MΩ 1MΩ/5MΩ/10MΩ 1MΩ/5MΩ/10MΩ

UPS保护时间 30分钟 30分钟 30分钟

尺寸 1600×600×800mm 1600×600×800mm 1600×600×800mm

输入电压 AC 220V±10% AC 220V±10% AC 220V±10%功 能 介 绍 Function introduction

实时监控功能

自动记录并显示测试结果和试验时间

可视化图形界面

电阻可通过曲线模式、 柱状模式显示

秒 分钟 小时

6 4 2 0 6 5 4 3 2 1 0功 能 介 绍 Function introduction

自研上位机软件支持定制功能

图形化、实时数据兼备、界面简单易操作

标配USB接口，通过电脑端更详细读取分析数据

应用领域 Application area

汽车电子 外部环境监控设备 消费电子

PCB厂家

对PCB板材进行长时间CAF测试，模拟出板材在经过长期高温高湿等恶劣环境下性能参数变化的趋势。

检测机构

PCB生产商无此设备或无资质的需要外派到第三方机构进行检测，具备专业资质的检测机构。

案例分析 Case analysis

某检测机构使用CAF测试系统512路PCB板长期绝缘性能认证测试