基础信息Product information

产品名称：HBM静电检测、MM放电模型、CDM静电放电

产品型号：

更新时间：2025-11-21

产品简介：

SCS770715静电事件探测仪EM EYE
英文名称：EM Eye ESD Event Detection Meter
探测静电放电次数和放电电压 ，HBM静电检测、MM放电模型、CDM静电放电

产品特性Product characteristics

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SCS770715静电事件探测仪EM EYE

英文名称：EM Eye ESD Event Detection Meter

探测静电放电次数和放电电压 ，HBM静电检测、MM放电模型、CDM静电放电

产品型号：770715

制造商：Desco Industries Inc（SCS 品牌）

770715：包含以下物品

770715探测仪（含传感器模块和CTS001天线）

CTC113-6FT：远端天线，常温型，缆线长度6英尺

SD内存卡

SD卡托

电源适配器/电池充电器

手提箱

选配

CTC115-6FT：远端天线，高温型，缆线长度6英尺

探测静电放电事件的次数和放电电压值

具有分辨信号的能力，区分EMI和ESD信号，剔除非ESD相关事件

可设置探测距离1.3～38.1cm

可选择CDM、HBM、MM放电模型

彩色触摸屏操作方便

数据保存在SD卡，可以转换为表单格式（EXCEL）

1. 产品描述

SCS770715静电事件探测仪EM EYE是一款静电事件探测仪，可以测试静电放电的次数和放电电压。仪器根据静电放电（ESD）信号的特征波形，区分静电放电和空间其他电磁信号，可剔除背景噪音或其他干扰信号。用户可以选择HBM静电检测、MM放电模型、CDM静电放电，仪器根据放电模型、探测距离和信号强度计算出各个模型的放电电压。

2. 部件功能及安装

CTS001 为定向天线，只探测天线正前方的信号

CTC113-6FT 为全向天线，可以探测到 360 度任何方向的信号，需要探测狭窄空间，可采用该天线

如果需要探测高温区域的静电放电事件，选购 CTC115-6FT 高温天线

仪器默认设置采用 CTS001 定向天线，如果采用 CTC113-6FT 或 CTC115-6FT 天线，需要在仪器设置中相应选择

正常情况下无需拔插探测模块，只有仪器维修或升级更换探测模块时才需要拔插

如果发生死机或其他故障，重新开/关机一次，绝大多数故障可以消除定位插头

3. 仪器操作

开机：开/关机键拨到左边

关机：开/关机键拨到右边

1 10 个弧形圆点：示意放电强度，点击可设置报警阈值

2 闪电/三角符号：点击可切换符号

闪电符号，只显示静电放电事件（ESD）

三角符号，显示所有放电事件（包含 ESD 和 EMI）

3 探测距离：天线到被测试物/测试点的距离，点击可设置距离

4 声音符号：点击该符号可选择报警声类型及音量。铃铛符号为“叮铃"声，只有一个音量，不能调节。

点击切换成喇叭符号，这时的仪器发出类似收音机调频声，声音根据信号强度的大小变化。继续点击可以调节音量大小，在喇叭上出现×，表示静音。

5 C 键：点击该键清零屏幕显示的读数

6 Menu/F 键：点击进入仪器硬件设置界面

7 Hold 键：点击后锁定读数（读数上方显示 Hold）；继续点击进入最大值模式（读数上方显示 Max），在

该模式下，屏幕显示探测到的最大读数；再次点击，退回到正常模式

8 时间：显示当前时间

9 电池符号：示意电量状况（全黑 100%电量，半黑 50%电量，全白表示<1 小时电量，×表示电量耗尽，蓝色表示正在充电）。点击电池符号可设置日期和时间

10 SD 卡符号：点击该符号，进入查看界面，可以查看测试记录

11 放电次数：该次数是累计次数，点击 C 键可清零

12 放电模型：点击可以选择 CDM、MM、HBM 放电模型或 Raw Input（原始信号）

13 放电电压读数：该仪器测试速度是皮秒级别的，显示速度不可能这么快，所以屏幕以每秒 1 个读数的速度来显示，显示的这个读数是该秒内所测到的所有值中最大的那个读数（导出数据可以查看其他读数）

3.1. 开机界面

仪器开机先显示仪器固件号，如下所示：

稍后，进入主界面。如果未插入 SD 卡或不能识别 SD 卡，出现以下提示：

无 SD 卡也可以正常使用该仪器，但测试数据不会被保存。点击棕色区域关闭提示窗口并进入主界面。

注意！拔插 SD 卡时，仪器处于关机状态。

3.2. 仪器硬件设置

点击 Menu/F 键进入硬件设置界面，显示如下：

第一行显示仪器主板编号

第二行为屏幕亮度，点击圆盘的◄/►增加或降低亮度，默认 50%（可设置 10%~100%的亮度）

点击▲/▼滚动到第三行“Dim time"项，设置自动关机时间，默认 5 分钟（可设置 1~9 分钟），点击◄/►

改变时间，一直点击◄，选择 disabled，表示不启用自动关机功能

点击▲/▼滚动到第四行“Local antenna"项，点击◄/►切换 Local antenna/Remote antenna

3.3. 设置日期和时间

点击电池符号进入日期和时间设置界面，显示如下：

第一行设置时间，点击圆盘▲/▼改变数值，点击◄/►移动光标向前或向后

第二行设置日期，格式为：月/日/年（02/10/25 表示 2025 年 2 月 10 日）

第三行选择 12/24 小时制，点击▲/▼选择 12H 或 24H

设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

4. 测试静电放电（ESD）事件

4.1. 设置探测距离和放电模型

仪器天线接收到放电产生的电磁波信号，采用专有算法，根据探测距离、信号强度和放电模型计算出放电电压。用户需要设置探测距离和放电模型。

探测距离：

天线距离被测试物/测试点的距离，设置范围 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）

注意：实际测试时，天线距离被测试物/测试点应该为所设置的距离。

放电模型：

CDM：器件本身带有静电，接触到其他导体时发生静电放电

MM：带静电的设备或工具接触到器件，发生静电放电

HBM：带静电的人体接触到器件，发生静电放电

Raw Input：天线所获得的原始信号，该读数就是用于计算放电电压的，该模式用于仪器校准

备注：在探测时，根据实际场景，选择其中一个放电模型，即以此模型来计算放电电压。实际工况可能是几种模型的混合放电，或者无法判断是那种放电模型时，建议选择 CDM 模型，因为 CDM 放电造成的损坏最大。

Time-Date Setup

Time: 14:06

Date: 02/10/25

Mode: 24 H

设置日期和时间

点击屏幕的距离或放电模型方框，进入设置界面，屏幕显示如下：

点击圆盘▲/▼设置探测距离，选择范围 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每点击 1 次递增 0.5 英寸；10 英寸以上，每点击 1 次递增 1 英寸。

点击圆盘◄/►设置放电模型，可以选择 CDM、MM、HBM、Raw Input

设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

4.2. 报警阈值设置

点击弧形圆点，进入设置界面。（备注：仪器 SD 卡只记录超过阈值的静电放电事件）

点击圆盘◄/►设置报警阈值，范围 000~990V，0~10V 按 1V 增幅设置，10~990V 按 10V 增幅设置

提示：一旦设置了报警阈值，低于阈值的读数圆点显示绿色，只有高于阈值的读数显示红色圆点。仪器 SD 卡仅保存高于阈值的读数。选择 000，所有读数都高于阈值，所有读数都保存在 SD 卡上

如果选择了“Raw Input"测试模式，可以选择 1~1500mV

设置完成后，点击圆盘中间的8 返回待机界面

设置距离和模型

设置报警阈值

按以上设置完成后，即可开始测试。测试时屏幕出现闪电符号，表示开启了信号屏蔽功能，仪器剔除了非ESD 放电信号，只显示静电放电信号。点击该符号切换到全信号模式，这时出现三角形符号，表示仪器显示所有探测到的信号，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放电信号。

测试时，电压读数为实时的放电电压值（每秒中最大的值），数字为超过阈值的放电次数，最高可以累计32767 次放电次数，点击 C 键可以清零放电次数，重新累计。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 规范进行静电放电事件风险评估流程

备注：

首先确定静电敏感器件是否有导体部位接触或非常接近导电的物体，例如金属-金属接触，如果没有，通常不会有静电放电风险，无需进一步进行风险评估。

空载测试：在制程中不要放入静电敏感器件，记录下测到的静电放电现象

放入静电敏感器件后，如果没有探测到更多的放电现象，表示探测到的是干扰信号/背景噪音，而非放入静电敏感器件后造成的静电放电，评估结束-低风险

如果探测到更多的放电现象，根据测到的放电电压值和器件的静电敏感阀值来评估风险，如果放电电压值超过器件所列明的阀值，采取措施消除危险，例如采取接地、离子中和等方式

采取消除风险的措施后，再次进行评估

5. 数据查看和处理

5.1. 安装 SD 卡

1）把 SD 卡插入仪器，注意方向，白色面朝上，有金属触脚的在里面。注意！一定要在仪器关机的情况下拔插 SD 卡。

2）插好卡后，仪器开机，仪器会对新卡或空卡进行初始化。然后进入待机界面，在屏幕右中可以看见 SD卡图标，表示成功。如果不显示 SD 卡图标或有红叉，表示该卡不兼容。

3）超过报警阈值的测试记录会保存在 SD 卡上。

在主界面，点击 SD 卡符号，进入查看界面。点击圆盘的▲/▼和◄/►可以上/下和左/右滚动查看。

5.2. 数据处理

向供应商获取 EMEYE_Converter.zip 软件，解压后双击 setup.exe 安装，按指示进行安装，最后点击 Close完成。

把 SD 卡从仪器中取出，放入配套的卡托（白色面向下插入 microSD 卡槽），然后把卡托插入电脑 USB 口

1) 打开安装的 Em Eye File Converter Rev.5 软件（在桌面有快捷图标）

2) 点击文件夹符号，选择 SD 卡上的文件 ESD3M0003.esd

3) 打开后可以看见所有的测试记录，每条记录表示一个时间点的测试记录。例如下图第一行（00001 条），

表示 2025 年 2 月 25 日 10 点 09 分 18 秒开始探测到 45 个 ESD 事件发生（报警阈值为 810V）

每个记录编号是指在该时间点开始探测到的所有 ESD 事件，以上 00001 为例，是 10 点 09 分 18秒开始探测到总共 45 个 ESD 事件（仅记录大于阈值 810V 的 ESD 事件）

保存每条测试记录后，用 EXCEL 打开可以看到该条记录内的所有 ESD 事件

点击任一条测试记录，然后点击 File > Save 保存，直接保存.CSV 文件格式即可点击这里选择这个

记录编号 报警次数 日期 时间 测试模型 测试距离 天线类型 阈值

4) 用 EXCEL 打开保存的文件可以显示详细的测试数据（以 00001 条记录为例）

A 栏（Number）：ESD 事件计数（总共 45 个 ESD 事件）

B 栏（Time）：ESD 事件发生的时间

C 栏（Value V）：ESD 事件放电电压（单位 V）

备注：如果 SD 卡满，把 SD 卡插入电脑，然后清空该卡即可。重新把空卡插入仪器后，仪器会自动初始化。