产品名称:方阻仪/方块电阻测试仪/电阻率/电导率仪
产品型号:
更新时间:2025-10-10
产品简介:
方阻仪/方块电阻测试仪/电阻率/电导率仪应用领域覆盖膜、导电高分子膜、高低温电热膜;隔热、导电窗膜、导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸、金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层、电阻式、电容式触屏薄膜、电极涂料;其他半导体材料、薄膜材料、硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻;半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件、导电薄膜(ITO导电膜玻璃等)
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一、方阻仪/方块电阻测试仪/电阻率/电导率仪应用领域
覆盖膜、导电高分子膜、高低温电热膜;隔热、导电窗膜、导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸、金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层、电阻式、电容式触屏薄膜、电极涂料;其他半导体材料、薄膜材料、硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻;半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件、导电薄膜(ITO导电膜玻璃等)、金属膜、导电漆膜、蒸发铝膜、PCB铜箔膜、EMI涂层等薄层电阻与电阻率;导电性油漆、导电性糊状物、导电性塑料、导电性橡胶、导电性薄膜、金属薄膜、EMI防护材料、导电性纤维、导电性陶瓷等方阻测试。
二、产品描述
采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿。高集成电路系统、恒流输出;PC软件进行数据管理和处理。
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方型四探针双位测量。仪器设计参考国标单晶硅物理测试方法及ASTM标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
三、仪器特性
1.电阻测量范围0.1uΩ~10MΩ即10-7~1×107Ω(JR3545最大1000MΩ)
2.电阻率测量范围0.1uΩ~10MΩ.cm即10-7~1×107Ω.cm(JR3545最大1000MΩ)
3.方块电阻测量范围1uΩ~1MΩ/□即10-6~2×106Ω/□(JR3545最大100MΩ)
4.电阻精度0.01%,最小分辨率0.1uΩ
5.方阻精度2%,最小分辨率1uΩ
6.双电测原理,提⾼精度和稳定性
7.测试探头直排和矩形可选
8.标配RS232、LAN通讯接口
9.搭配软件可查看和记录测试数据
四、仪器应用
使⽤开尔⽂测试夹直接测试电阻器直流电阻
使⽤四探针治具测试⽚状或块状半导体材料、⾦属涂层以及导电薄膜等材料的⽅阻和电阻率
五、方阻仪/方块电阻测试仪/电阻率/电导率仪指标参数规格
型号 | JR3545 | JR3542 |
屏幕显示 | 3.5英寸TFT-LCD | |
测试参数 | 电阻:R,⽅阻:Rsq、电阻率:RY、电导率:CY | |
测试⽅式 | 单电测、双电测 | |
最小分辨率 | 0.01μΩ | 0.1μΩ |
测试电流 | DC 1A~1μA | DC 1A-0.5μA |
测量精度 | 电阻:0.01%,⽅阻:2% | |
测试速度 | 快速2.2ms,中速21ms,慢速1(102ms),慢速2(202ms) | |
测试量程 | 10mΩ/100mΩ/1000mΩ/10Ω/100Ω/1000Ω/ 10kΩ/100kΩ/1000kΩ/10MΩ/100ΜΩ/1000ΜΩ | 20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/ 2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ |
信号源 | 恒流DC 100mA~1A | |
温度测量 | 范围-10℃~60℃;精度±1℃ | |
校正 | 全量程内短路清零 | |
比较器 | 10档分选;实现HIGH/IN/LOW分选 | |
数据保存 | 搭配电脑软件记录测试数据 | |
触发器 | 内部触发,外部触发 | |
接口 | 外部I/O接口,LAN接口,RS232接口 | |
电源 | 电压100VAC~240VAC;AC频率50Hz~60Hz;额定功率40VA | |
尺寸与重量 | 325mm*215mm*96mm;重量2kg | |
附件 | 四探针测试夹具、电源线 |
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