产品中心您当前的位置：首页 > 产品中心 > 体积电阻，电阻计，记录仪 > 电能质量分析仪 > 日本日置电容测试仪HIOKI3504-50
基础信息Product information
产品名称：日本日置电容测试仪HIOKI3504-50
产品型号：
更新时间：2024-04-10
产品简介：
专业为祖国用户提供日本日置电容测试仪HIOKI3504-50仪器设备、测试方案、技术培训、维修计量服务，为行业里一家有技术工程师的以技术为导向的仪器设备综合服务商。
产品特性Product characteristics
专业仪器设备与测试方案供应商——上海坚融实业有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 坚友（上海）测量仪器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，为原安捷伦Agilent【现是德KEYSIGHT】产品技术支持工程师-坚JET与吉时利KEITHLEY【现泰克Tektronix】产品技术支持工程师-融YOO于2011年共同创办的以技术应用为特色的代理贸易公司，专注工业测试行业十六年，志在破旧立新！*进口仪器设备大多厂家仅在国内设销售点，但技术支持薄弱或没有，而代理经销商也只专做销售，不专业做售前技术答疑/测试方案，不专业做售后使用培训/维修校准的空白。
日本日置电容测试仪HIOKI3504-50按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
SMD测试治具9699，用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
SMD测试治具9677，用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9263，直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
测试治具9262，DC～8 MHz, 直接连接型
测试治具9261电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长
镊形探头L2001，线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
4端子测试探头 9140，DC～100kHz, 1m长
SMD测试治具9677，用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9263，直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
测试治具9262，DC～8 MHz, 直接连接型
测试治具9261电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长
镊形探头L2001，线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
4端子测试探头 9140，DC～100kHz, 1m长
日本日置电容测试仪HIOKI3504-50基本参数
测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF，D:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016，测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1
上一篇:日本C电容测试仪3504-40
