产品名称:日本日置LCR测试仪HIOKI IM3536
产品型号:
更新时间:2024-08-20
产品简介:
专业为祖国用户提供日本日置LCR测试仪HIOKI IM3536仪器设备、测试方案、技术培训、维修计量服务,为上海华东地区一家以技术为导向的仪器设备综合服务商。
专业仪器设备与测试方案供应商——上海坚融实业有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 坚友(上海)测量仪器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,为原安捷伦Agilent产品技术支持工程师-坚JET和吉时利KEITHLEY产品技术应用工程师-融YOO于2011年共同创办的以技术支持为特色的代理贸易公司,志在破旧立新!*进口仪器设备大多厂家仅在国内设销售点,技术支持薄弱或没有,而代理经销商也只专做销售,不专业做售前技术答疑/测试方案,不专业做售后使用培训/维修校准的空白。我们的技术销售工程师均为本科以上学历,且均有10年以上测试行业经验,以我们*进*的经营理念,专业为祖国用户提供仪器设备、测试方案、技术培训、维修计量服务,为上海华东地区一家以技术为导向的仪器设备综合服务商。
日本日置LCR测试仪HIOKI IM3536性能特点
电解电容器的电容测量:
根据JIS标准测试电解电容器,电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大,因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。
陶瓷电容器的电容测量:
陶瓷电容器可分为,随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz,内置电压范围10mV~5V,非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。
电感器(线圈)的电感测量:
电感器(线圈)所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率更低的频率下测量L和Q。
测量电感器的频率特性:
LCR测试仪IM3536的测量频率较广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,非常适合于评估连续改变频率的测量。在计算机中安装附件LCR采用应用软件(CD-R),并通过接口(USB, GP-IB, RS-232C),可以进行扫频功能,自动测量出的测量数值能够以Excel或CSV格式进行保存。
宽广范围的测量条件下,非常适用于进行研发和评估实际使用条件的LCR测试仪
宽频率范围的LCR非常适用于研发和评估不同工作频率范围下压电元器件和线圈等的谐振频率。推荐用于评估压电元件和线圈的共振频率。若使用应用软件※则能够简单的对频率、电压和电流进行扫描和测量。
可变频率:DC, 4 Hz〜8 MHz
电压可变:10 mV〜5 V(V模式/CV模式)
电流可变:10 μA〜100 mA(CC模式)
※能够使用计算机设置扫频(或电压、电流),并将测量数据以CSV或Excel格式保存。应用软件请使用标配的CD进行安装,或从HP中下载。
连续测量功能:希望以1kHz检查电源电感的L-Q,还想检查直流电阻(Rdc)。这时,1台IM3536就可以在2种测试要求下进行连续高速测试。
LCR测试仪在自动化产线中测试可靠:测试线补偿
线长补偿设置可设置为:0 m / 1 m / 2 m / 4 m。测试线延长时也能保证精度。
LCR测试仪在自动化产线中测试可靠:接触检查功能
4端子测量时,预先设置判断测试端与被测物的接触状态。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,并在超过所设阈值时发出报警信号。
日本日置LCR测试仪HIOKI IM3536基本参数
测量模式 LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)
测量参数Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)
显示范围 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)
测量频率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平 [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压 发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗 通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,触摸屏
功能 比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口 EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1
探头·治具
使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。
SMD测试治具IM9100直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子开尔文夹9140-10,DC~200kH,50 Ω,1 m长
测试治具9261-10,线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试治具9262,DC~8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263,直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置电压单元 9268-10,直接连接型,40Hz~8MHz,大外加电压DC±40V
DC偏置电流单元 9269-10,直接连接型,40Hz~2MHz,大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)
4端子探头 9500-10,线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
SMD测试治具9677,用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699,用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探针IM9901,用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
前端探针IM9902,用于更换L2001的前端的小型尺寸
4端子探头L2000,DC~8MHz,1m长
镊形探头L2001,线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
PC通讯
GP-IB连接线9151-02,2m长
RS-232C 连接线 9637,9pin-9pin,1.8m长