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基础信息Product information
产品名称：日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570
产品型号：
更新时间：2024-04-06
产品简介：
日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查，LCR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量，基本精度±0.08%的高精度测量，适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
产品特性Product characteristics
专业仪器设备与测试方案供应商——上海坚融实业有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 坚友（上海）测量仪器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，为原安捷伦Agilent产品技术支持工程师-坚JET和吉时利KEITHLEY产品技术应用工程师-融YOO于2011年共同创办的以技术支持为特色的代理贸易公司，志在破旧立新！*进口仪器设备大多厂家仅在国内设销售点，技术支持薄弱或没有，而代理经销商也只专做销售，不专业做售前技术答疑/测试方案，不专业做售后使用培训/维修校准的空白。我们的技术销售工程师均为本科以上学历，且均有10年以上测试行业经验，以我们*进*的经营理念，专业为祖国用户提供仪器设备、测试方案、技术培训、维修计量服务，为上海华东地区一家以技术为导向的仪器设备综合服务商。
元器件测量仪器（电感、电容、电阻测量）
日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570性能特点
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
阻抗分析仪HIOKI IM3570|日本日置HIOKI主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570技术参数
测量模式 LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
测量量程 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）
测量信号电平 V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）
输出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
测量时间 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
电源 AC90~264V，50/60Hz，150VA
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
体积和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件 电源线×1
日置HIOKI阻抗分析仪IM3570附件：治具，电缆，直流偏置，GP-IB，RS-232C接口，打印机
