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eMMC5.1测试解决方案

日期：2016-06-13浏览：3104次

eMMC5.1测试解决方案
主动式探棒架构
支援待测物频宽zui高可达200 MHz
良好的阻抗匹配, 强化接地保护, 降低杂讯干扰, 提升高速讯号的量测品质、度和稳定度
4种规格探棒, 针对不同的信号源, 可搭配使用以获得的信号量测品质
长时间纪录
透过USB3.0传输介面, 平均300 MB/s的传输率, 设计逻辑分析仪不间断长时间纪录功能, 将巨量资料存在計算機硬碟上供工程师进行问题分析除错, 根据不同的取样率和通道数的设定, 可纪录zui少约7小时, zui多约800小时的资料量
eMMC5.1 / SD 3.0 LA mode 解码与触发
搭配探棒, 取样率可达2GHz, 基本支援4 ch, zui大支援32 ch (选购)
注意事项
探棒传输线与主机连接port为USB3.0接口；8 port为一组触发电压、分为4组(A0-A7,B0-B7,C0-C7,D0-D7)、共计有32 port。每一条探棒传输线各自连接一组前端主动探棒，可依原厂出货配件的颜色区分使用。
本型号LAP-F164为32 port机种，每一支探棒zui前端具备2组讯号探测线(共64通道)。

SD/eMMC测试分析仪性能特点
时序分析功能(Logic Analyzer mode)
Event trigger事件触发：3阶CMD sequence事件设定；CRC error触发；Busy Time触发。(for eMMC)
协定封包触发；NCR…等时序格式；1、4、8 bit数据格式；支援HS400 Mode
协议分析功能(Protocol Analyzer mode)
Events log: 小时→天等级的纪录长度(250M records)；CMD / Addr / Arg / Data / status封包结构查找；CRC error、CMD response error问题讯号快速查找。
自动化测试项目随JEDEC规格进化
Device Identification Mode；Data Transfer Mode；Read/Write Data Comparison；Packet Statistics…等。
软件仿真校正功能
软件内含625 ps精度时序飘移(timing shift)校正，排除微小的取样点频率误差所造成讯号解析错误。

状态同步取样率zui高达 200MHz
高速数字量测、追求准确之*选择
高速核心芯片设计, 搭配*主动式探棒架构, 大幅提升取样讯
号与触发电压的度, 量测复杂电路与高频讯号的*选择,
有效减少研发时程与提升量测稳定度
状态取样频率：zui高可达 200MHz (Dual-edge)
时序取样频率：zui高可达1GHz,通道数： 40CH / 64CH
每信道内存深度(bits)： 4M / 64M
6项硬件触发： I2C / I2S / SPI / SVID / UART / CAN2.0B
eMMC 5.1 / SD3.0 LA mode 协议解碼与触发
免费支持超过110种总线协议分析
长时间纪录功能,透过 USB3.0 接口，可直接储存数据于硬盘
可连结他牌示波器(Tektronix, Agilent, GW Instek, …),将波形输入到软件内进行分析
可量测之待测物频宽，zui高可达 200MHz
良好的阻抗匹配，强化接地保护，降低噪声干扰，
提升高速讯号的量测质量、度和稳定度
支持 4 种规格：低电压探棒、负逻辑(ECL)探棒、支援eMMC5.1/SD3.0
标准 TTL 探棒
主动式探棒

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